Silcon-SPM-Sensors

NANOSENSORS™ SPM ¼¾¼­µéÀº ¾ÆÁÖ ³ôÀº ÇØ»óµµÀÇ À̹ÌÁö¸¦ ¾òÀ» ¼ö ÀÖ´Â ¿øÀÚÇö¹Ì°æ(AFM, SPM:ÁÖ»ç Žħ Çö¹Ì°æ) ¿ëÀÇ ´Ù¿ëµµ ½Ç¸®ÄÜ ÄµÆ¼·¹¹ö·Î¼­ ¸ðµç ¾Ë·ÁÁø »ó¾÷¿ë ¿øÀÚÇö¹Ì°æ¿¡¼­ »ç¿ëµÈ´Ù. ÀÌÇÁ·Îºê´Â ´Ü°áÁ¤ÀÇ ½Ç¸®ÄÜ ÆÁÀÌ ´Ü°áÁ¤ÀÇ ½Ç¸®ÄÜ ÄµÆ¼·¹¹ö¿¡ ÅëÇյǾî ÀÖ´Ù. ÆÁÀº 100µµ ¹æÇâÀÌ´Ù. ÄµÆ¼·¹¹ö¿Í ÆÁÀº ´Ü°áÁ¤ÀÇ È¦´õ¿¡ ÀÇÇØ ÁöÅʵȴÙ. NANOSENSORS™ SPM ¼¾¼­ÀÇ 3°¡Áö ±¸¼º¿ä¼Ò´Â ÆÁ,ĵƼ·¹¹ö ±×¸®°í È¦´õÀε¥  Çѵ¢¾î¸®·Î µÇ¾î ÀÖ´Ù. ´ÙÀ½Àº ÇÁ·ÎºêÀÇ °¢ ±¸¼º ¿ä¼Ò¿¡ ´ëÇÑ ÀÚ¼¼ÇÑ ¼³¸íÀÔ´Ï´Ù.

ÆÁ(Tip)

ÆÁÀº ¸Ç¾Æ·¡ ºÎÀ§°¡ ´Ù°¢ÇüÀ¸·ÎµÇ¾î ÀÖ´Â ÇǶó¹Ìµå ¸ð¾çÀÌ´Ù. °Å½ÃÀûÀ¸·Î ¹Ý¿øÃß°¢Àº ÄµÆ¼·¹¹öÀÇ ¹æÇâ¿¡ µû¶ó ºÃÀ» ¶§ 20¡Æ ¿¡¼­ 25¡Æ »çÀÌÀÌ°í ¿·¿¡¼­ ºÃÀ» ¶§ 25¡Æ ¿¡¼­ 30¡Æ »çÀÌÀÌ´Ù. ÀÌ ¸ð¾çÀº ÆÁÀÇ ¼±´Ü¿¡¼­ º¯ÇÑ´Ù. ¸¶Áö¸· 200 nm ¿¡¼­´Â ÆÁÀÇ ²ÀÁöÁ¡ÀÇ °¢Àº °Å½ÃÀûÀÎ °¢µµ »óÀ¸·Î´Â °¡»óÀûÀ¸·Î °ÅÀÇ ³¡ ºÎºÐ¿¡¼­ 0¡Æ °¡ µÈ´Ù. ÆÁ ¼±´ÜÀÇ ¹Ý°æÀº º¸Åë 10nm º¸´Ù ´õ ÀÛ´Ù. ÀÌ °ªÀº ´Ù¸¥ ±â¼úµé·Î Á¢±ÙÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ÇѰ踦 ÈξÀ ³Ñ´Â ´õ ÀÌ»ó Á¢±ÙÇϱ⠾î·Á¿î ÃÖ°íÀÇ ÇØ»óµµ¸¦ ¾ò´Â´Ù. ÆÁµéÀÇ Æ¯Â¡µéÀº ´ÙÀ½°ú °°½À´Ï´Ù.(¿¹¿Ü : SuperSharpSilicon ¼¾¼­) 

ÆÁÀÇ ¹Ý°æÀº ´ëÇ¥ÀûÀÎ PointProbe Plus(PPP)ÀÇ °æ¿ì Åë»óÀûÀ¸·Î 7 nm ÀÌÇÏÀÌ´Ù. Àû¾îµµ 10nm¸¦ º¸ÁõÇÑ´Ù.
¹Ý¿øÃß°¢Àº ÆÁÀÇ ¼±´Ü¿¡¼­ 10¡Æ ÀÌÇÏÀÌ´Ù.
ÆÁÀÇ ³ôÀÌ´Â 10 µm~15 µm ÀÌ´Ù.


½ÇÁ¦·Î  ¸î¸î ¿¬±¸½Ã¼³¿¡¼­ UHV»ó¿¡¼­ non contact / TappingMode ¼¾¼­ NCH/NCLÀ¸·Î ¿øÀÚ ÇØ»óµµÀÇ À̹ÌÁö¸¦ ¼º°øÀûÀ¸·Î ȹµæÇÏ¿´½À´Ï´Ù.

ĵƼ·¹¹ö(Cantilever)

ĵƼ·¹¹öÀÇ ´Ü¸éÀº ´ÙÀ½ÀÇ ÀÕÁ¡ ¶§¹®¿¡ »ç´Ù¸® ²Ã·Î µÇ¾î ÀÖ´Ù.

ĵƼ·¹¹öÀÇ °ËÃâºÎ´Â ±¤°ËÃâÀåÄ¡ÀÇ ·¹ÀÌÁ®ºöÀ» ½±°Ô Á¶Á¤ÇÏ°Ô Çϱâ À§ÇÏ¿© ÈξÀ ³Ð°Ô µÇ¾î ÀÖ°í ¹Ý¸é¿¡ ½ºÇÁ¸µ »ó¼ö¿Í °ü°èµÇ´Â ĵƿ·¹¹öÀÇ Æò±Õ ³ÐÀÌ´Â ÈξÀ ÀÛ´Ù.
ÆÁ ÃøÀº Á¼°Ô µÇ¾î À־ µ¿Àû(Non contact / Tapping) ¸ðµåÀÇ ÀÛµ¿¿¡¼­ Áß¿äÇÑ ÆÁ°ú ½Ã·á »çÀÌÀÇ ¸Åü¿¡ ÀÇÇÑ ´ïÇÎ(ÀúÇ×)À¸·Î ÀÎÇÑ ÄµÆ¼·¹¹öÀÇ ÁøÆøÀÇ °¨¼Ò¸¦ ÁÙ¿©ÁØ´Ù.
Á¤Àü¿ë·® ÃøÁ¤½Ã¿¡ ĵƼ·¹¹öÂÊÀÇ ¸éÀûÀÌ ÀÛÀ¸¸é ÀÛÀ»¼ö·Ï ´õ ÀÛÀº DistributionÀ» Áֱ⠶§¹®¿¡ ĵƼ·¹¹öÀÇ Á¤Àü¿ë·®(Capasitor)Àº °¨¼ÒµÈ´Ù.

ÀÀ¿ëºÐ¾ß¿¡ µû¶ó , ĵƼ·¹¹öÀÇ ±æÀÌ , ³ÐÀÌ ±×¸®°í µÎ²²´Â °¢°¢ ´Ù¸¥µ¥ ±æÀÌ´Â 125 µm¿¡¼­ 450 µm ,³ÐÀÌ´Â 20 µm¿¡¼­ 60 µm, µÎ²²´Â 0.3 µm ¿¡¼­ 8 µm ÀÌ´Ù. Ưº°ÇÑ ÀÀ¿ëºÐ¾ß¸¦ À§ÇÏ¿© À§ÀÇ Ç¥ÁØ ¹üÀ§¸¦ ³Ñ´Â ±Ô°ÝÀ» °¡Áø Ưº°ÇÑ °Íµµ Á¦ÀÛ °ø±ÞÇÕ´Ï´Ù.

Ȧ´õ(Holder)

ĵƼ·¹¹ö´Â ½Ç¸®ÄÜ È¦´õ¿¡ °íÁ¤µÇ¾î ÀÖ½À´Ï´Ù. (ĵƼ·¹¹ö¿Í ÆÁÀÌ È¦´õ¿¡ ÅëÇյǾî ÀÖ´Â ½ºÄÉÄ¡¸¦ º¸·Á¸é ¿©±â ¸¦ Å©¸¯ÇÏ½Ã¸é µË´Ï´Ù.) ¼¾¼­(ÇÁ·Îºê)ÀÇ ÀϺκÐÀΠ Ȧ´õ´Â ¼¾¼­¸¦ ´Ù·ç°Å³ª ¿øÀÚÇö¹Ì°æ¿¡ °íÁ¤Çϱâ À§ÇÏ¿© ¼³°èµÇ¾ú½À´Ï´Ù.

 È¦´õÀÇ ±âÇÏÇÐÀûÀÎ ±Ô°ÝÀº °ËÃâÀåÄ¡¸¦ Å©°Ô ÀçÁ¶Á¤ÇÏÁö ¾Ê°í ¼¾¼­¸¦ Àç ¼³Ä¡ ÇÒ¼ö ÀÖµµ·Ï ÇÏ¿© ¼¾¼­ÀÇ ±³È¯½Ã ÀçÇö¼ºÀÌ ¸Å¿ì ÁÁ´Ù. Alighment Chip °ú ÇÔ²² »ç¿ëÇÒ °æ¿ì Ȧ´õÀÇ µÞ¸é¿¡ ÀÖ´Â Á¤·Ä¿ë ȨÀ» ÀÌ¿ëÇϸé Á¤·Ä ÀçÇö¼ºÀ» ÈξÀ ³ôÀÏ ¼ö ÀÖ´Ù. 

Ȧ´õÀÇ °¢ ±¸¼® ºÎºÐÀ» ¸ø µû±âÇÏ¿© ¼³°èµÇ¾î À־ ÀÌ·¸°Ô ÇÏÁö ¾Ê¾ÒÀ» °æ¿ì¿¡ ¼¾¼­³ª ½Ã·áÀÇ ±â¿ï¾îÁü¿¡ ÀÇÇØ ÀϾ ¼ö Àִ Ȧ´õ¿Í ½Ã·áÀÇ ¿øÇÏÁö ¾ÊÀº Á¢ÃËÀ»  ÇÇÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô ÇÏ¿´´Ù.

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡

¡¡


ÇÁ·ÎºêÀÇ ÀçÁú(Materials)

NANOSENSORS™ silicon SPM ¼¾¼­µéÀº °íÀ¯ÇÑ Æ¯Â¡À» °®µµ·Ï °í¹Ðµµ·Î µµÇεȠ ´Ü°áÁ¤ ½Ç¸®ÄÜÀ» ÀÌ¿ëÇÏ¿© Á¦Á¶ÇÕ´Ï´Ù.

½Ç¸®ÄÜÀº ¹ÝµµÃ¼ ±â¼ú¿¡¼­ À߾˷ÁÁø Àç·áÀÔ´Ï´Ù. µµÇÎµÈ ½Ç¸®ÄÜÀÇ ³ôÀº Àüµµ¼ºÀº Á¤Àü Æ÷È­¸¦ ¸·À» ¼ö ÀÖ´Ù. ÀúÇ×Àº 0.01 ¿¡¼­ 0.025 ¿È cm Á¤µµÀÌ´Ù.
µ¢¾î¸®·Î ºÎÅÍ Á¦Á¶¸¦ ÇÏ¿© Ȧ´õ¸¦ ÆÁ°ú ĵƼ·¹¹ö¿Í ´ÜÀÏü·Î ÇϹǷμ­ Àý´ëÀûÀ¸·Î Á÷¼±¼ºÀ» °¡Áø ĵƼ·¹¹ö¸¦ ¸¸µå´Âµ¥ ¹æÇذ¡ µÇ´Â ¾î¶°ÇÑ ¼ÒÀç·Î ºÎÅÍ ¿À´Â º»ÁúÀûÀÎ ½ºÆ®·¹½º¸¦ ÇÇÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù.
 ÁÖÀ§ ¿Âµµ°¡ º¯ÇÏ¿©µµ Á¦¾îµÇÁö ¾ÊÀº Èû¿¡ ÀÇÇÑ ÄµÆ¼·¹¹öÀÇ ÈÚ Çö»óÀº ¾ø´Ù.
½Ç¸®ÄÜÀº È­ÇÐÀûÀ¸·Î ºÒȰ¼ºÀ̱⠶§¹®¿¡  ¿ë¾×À̳ª Àü±â È­Çм¿¿¡¼­ÀÇ ÀÀ¿ëÀÌ °¡´ÉÇÏ´Ù. 

Æ÷Àå´ÜÀ§(Packing Units)

¸ðµç ¼¾¼­´Â °£´ÜÈ÷ ºÎÂøµÇ´Â GelPak™ ¹Ú½º¿¡ ³Ö¾î¼­ ÆÇ¸ÅµÇ¸ç Æ÷Àå´ÜÀ§´Â ¿©·¯ Á¾·ù°¡ ÀÖ½À´Ï´Ù. ´ëºÎºÐÀÇ ¼¾¼­´Â 10 °³, 20°³, 50°³  ¹× 370 ~ 380°³ ÀÌ»óÀÇ ¼¾¼­¸¦ Æ÷ÇÔÇÑ ¿þÀÌÆÛ ´ÜÀ§·Î Æ÷ÀåÀÌ µË´Ï´Ù. ½ÇÁ¦ÀûÀÎ Æ÷Àå´ÜÀ§¿¡ ´ëÇØ¼­´Â Á¦Ç°¾È³»¸¦ ÅëÇÏ¿© °¢ Á¦Ç°ÀÇ ³»¿ªÀ» Âü°íÇÏ½Ã¸é µË´Ï´Ù. ¶Ç ¸î Á¾·ùÀÇ ÆÁÀ» ÇѰ³ÀÇ ¹Ú½º¿¡ Æ÷ÀåÇÑ Æò°¡¿ë ŰƮµµ ÆÇ¸ÅÇÕ´Ï´Ù. 

Evaluation Kit1
Evaluation Kit2

ÀÀ¿ëºÐ¾ß(Applications)

Nanosensors´Â ÁÖ»çŽħÇö¹Ì°æÀÇ ´Ù¾çÇÑ ÀÀ¿ëºÐ¾ß¿¡ Àû¿ëÇÒ ¼ö ÀÖ°Ô  force constant°¡ 0.01N/m ¿¡¼­ 100N/m ÀÌ°í ¶Ç resonance frequence°¡ 10kHz ¿¡¼­ 600kHzÀÎ ³ÐÀº ¹üÀ§ÀÇ ´Ù¾çÇÑ ¼¾¼­¸¦ °ø±ÞÇÑ´Ù. ±¸Ã¼ÀûÀÎ ÀÀ¿ëºÐ¾ß´Â ´ÙÀ½°ú °°½À´Ï´Ù.

Contact-mode AFM(PPP-CONT)
Non-contact or TappingMode™ AFM(PPP-NCH/PPP-NCL/PPP-SEIH/PPP-ZEIHR...)
Lateral / friction force microscopy(PPP-LFMR...)
Force modulation microscopy(PPP-FM/PPP-FMR...)
Electrostatic force microscopy(PPP-EFM...)
Biological Applications(PPP-BSI...)
Magnetic force microscopy(PPP-MFMR/PPP-LM-MFMR...)
±×¿Ü(SCM, Tunneling AFM, SSRM...)µîÀÔ´Ï´Ù.

Ưº°ÁÖ¹®Á¦ÀÛ(Special Orders)

À§¿¡ Á¦½ÃµÈ force constant¿Í resonance frequency¸¦ ¹þ¾î³ª´Â °Í(1 MHz ÀÌ»óµµ °¡´É) ¶Ç´Â ÆÁÀÌ ¾ø´Â ÇÁ·Îºêµî »ç¿ëÀÚ°¡ Ưº°È÷ ¿ä±¸ÇÏ´Â ÇÁ·ÎºêµéÀ» Ưº° ÁÖ¹® Á¦ÀÛÀ» Çϰí ÀÖ½À´Ï´Ù. ´ÙÀ½¿¡ Ưº° ÁÖ¹®¿¡ ÀÇÇØ Á¦ÀÛµÈ ÆÁµéÀ» ¼Ò°³ÇÕ´Ï´Ù.

High Q-Factor Sensors(UHV)(PPP-QNCHR/PPP-QFMR...)
Ultra High Frequency(PPP-NCVH...)
Plateau tips
Rounded tips
Sphere tips
Extra Soft Cantilever for Biological Applications(PPP-BSI...)
Tipless Cantilvers(TL-CONT, TL-NCH, TL-NCL, TL-FM...)
´Ù¾çÇÑ Magnetic Force Microscopy¸¦ À§ÇÑ ¼¾¼­(PPP-LM-MFMR...)
ÀÚµ¿È­µîÀÇ ¸ñÀûÀ» À§ÇÑ Alignment Çü½ÄÀÇ ÇÁ·Îºê°¡ Á¦ÀÛ °ø±ÞµÈ´Ù. Alignment Chips( ALIGN-8)

Special Developments

Special Developments

Plateau tips

Rounded tips

¼¾¼­´Â ´ÙÀ½°ú °°Àº Á¾·ùÀÇ ÄÚÆÃÀÌ Á¦°øµÇ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
´õ ÀÚ¼¼ÇÑ ÀڷḦ À§ÇÏ¿©  COATINGS À» Ŭ¸¯ÇϽʽÿä.

ÁÂÃø ±×¸²Àº 2 µm µÎ²²ÀÇ ÄµÆ¼·¹¹ö ¹Ý»ç¸éÀ» ÄÚÆÃÇÏÁö ¾ÊÀº ¹Ý»ç °­µµÀÌ¸ç ¿ìÃøÀº ¹Ý»ç ÄÚÆÃÀ» ÇÑ ¹Ý»ç °­µµ¸¦ ÆÄÀå¿¡ µû¶ó ±×¸² ±×·¡ÇÁÀÔ´Ï´Ù.°­µµ´Â º¸Åë ¹úÅ© ½Ç¸®ÄÜÀÌ 1 ÀÔ´Ï´Ù. 



NANOSENSORS™ / POINTPROBE¢ç ´Â NanoWorld AG ÀÇ µî·Ï»óÇ¥ÀÔ´Ï´Ù.